華測高溫介電測試儀介紹
華測高溫介電測試儀
產(chǎn)品概述
1、除去電網(wǎng)諧波對采集精度的影響目前電網(wǎng)中大量使用變頻器等高頻、高功率設(shè)備，將對電網(wǎng)造成諧波干擾。從而在高頻、弱信號測量過程中影響弱信號的采集精度，華測儀器公司推出的抗干擾模塊以及采用新特殊參數(shù)分析技術(shù),實(shí)現(xiàn)了高達(dá)120MHz的高頻測量,從而滿足了很多半導(dǎo)體功能材料和納米器件的測試需求。
2、除去不規(guī)則輸入的自動平均值功能，更強(qiáng)數(shù)據(jù)處理及內(nèi)部屏蔽
華測系列阻抗分析儀是華測儀器電子事業(yè)部采用當(dāng)前先進(jìn)的自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，為國產(chǎn)阻抗測試儀器的新高度。在測量10Hz-50MHz的頻率瓶頸；解決了國外同類儀器只能分析、無法單獨(dú)測試的缺點(diǎn)；采用單測和分析兩種界面，讓測試更簡單。得益于先進(jìn)的自動平衡電橋技術(shù)，在10Hz-50MHz的頻率范圍可以確保0.05%的基本精度。快達(dá)5ms的測試速度及高達(dá)50M的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效除去測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。
3、溫度波動小于±0.25℃，抗干擾性提高300倍
高溫介電溫譜測試系統(tǒng)運(yùn)用三電極法設(shè)計(jì)原理測量，并參考A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。其重復(fù)性與穩(wěn)定性更好，采用雙屏蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的準(zhǔn)確度，同時(shí)抗干擾能力更強(qiáng)。搭配Labview系統(tǒng)開發(fā)的Huacepro軟件，具備彈性的自定義功能，可進(jìn)行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。在過壓、過電流、超溫等異常情況下確保測試過程的**，高溫介電測試儀的資料保存機(jī)制在電腦異常時(shí)瞬時(shí)斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗(yàn)數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動后可恢復(fù)原有試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
4、專用高頻測試線纜，更適合高頻測量
測試引線使用4端子對配置以擴(kuò)展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時(shí)測試線采用高頻測試專用測試線，設(shè)計(jì)兩層屏蔽。更適合高頻介電參數(shù)測量。
產(chǎn)品優(yōu)勢
目前國內(nèi)高溫加熱大都為管式爐或馬弗爐，主要原理為加熱絲或硅碳棒對爐體加熱，加熱與降溫過程速度慢，效率低。也無法實(shí)現(xiàn)溫度的高精度測量，加熱區(qū)域也存在不均勻的現(xiàn)象，華測儀器通過多年研究開發(fā)了一種可實(shí)現(xiàn)高精度，高反射率的拋物面與高質(zhì)量的加熱源相配置，在高速加熱及高速冷卻時(shí)，具有良好的溫度分布?？蓪?shí)現(xiàn)寬域均熱區(qū)，高速加熱、高速冷卻，用石英管保護(hù)加熱試樣，無氣氛污染?？稍诟哒婵?，高純度氣體中加熱。設(shè)備可組成均熱高速加熱爐，溫度斜率爐，階段加熱爐。 它提高了加熱試驗(yàn)?zāi)芰ΑＭ娮锠t和其他爐相比，紅外線反射爐節(jié)省了升溫時(shí)間和保持時(shí)間及自然冷卻到室溫所需時(shí)間，在試驗(yàn)中也可改寫設(shè)定溫度值。從各方面講，都節(jié)省試驗(yàn)時(shí)間并提高實(shí)驗(yàn)速度。同高頻爐相比，不需特殊的安裝條件及對加熱試樣的要求。同電阻爐一樣安裝簡單，有冷卻系統(tǒng)**可靠。以提高試驗(yàn)人員的工作效率，實(shí)現(xiàn)溫度控制操作！
華測高溫介電測試儀的優(yōu)勢：
溫度高精度控制
近紅外鍍金聚焦?fàn)t和溫度控制器的組合使用，可以準(zhǔn)確控制樣品的溫度(遠(yuǎn)比普通加溫方式)。此外，冷卻速度和保持在任何溫度下可提供高精度。
高速加熱與冷卻方式
高能量的紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時(shí)爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體冷卻裝置，可實(shí)現(xiàn)快速冷卻。
不同環(huán)境下的加熱與冷卻
加熱/冷卻可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（高純度惰性氣體靜態(tài)或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。
